Micsig公司面向全球測試測量用戶推出 OIP系列光隔離探頭,已正式上市發(fā)售。光隔離探頭主要應(yīng)用于第三代功率半導(dǎo)體氮化鎵( GaN)及碳化硅( SiC)、 IGBT半 /全橋設(shè)備的設(shè)計(jì)與分析,以及逆變器、高壓高帶寬安全隔離及各種浮地測試領(lǐng)域。 Micsig是全球第三家、也是國內(nèi)唯一一家掌握相關(guān)技術(shù)的公司,并且 Micsig具有專有技術(shù)路線—— SigOFIT™技術(shù)。
光隔離探頭堪稱測試探頭中的愛馬仕。因其具有其他所有電壓探頭難以企及的性能、以及與性能優(yōu)勢相對(duì)應(yīng)的技術(shù)難度,動(dòng)輒 10— 30萬 RMB/只的售價(jià),從重量看遠(yuǎn)比黃金貴重,絕大部分用戶難以承擔(dān)如此高昂的測試成本,因此在測試測量領(lǐng)域一直如奢侈品般的存在。 Micsig公司經(jīng)過持續(xù)技術(shù)攻關(guān),最終全面突破所有技術(shù)瓶頸?;?SigOFIT™技術(shù)的光隔離探頭,具有極高的共模抑制比,極高的安全隔離電壓和極佳的信號(hào)完整性,可將準(zhǔn)確度、帶寬和底噪三個(gè)重要技術(shù)指標(biāo)提升到一個(gè)全新水準(zhǔn)。在產(chǎn)品定價(jià)上,基于 SigOFIT™技術(shù)的 OIP系列光隔離探頭可讓用戶減少 90%的測試投入,輕松享有測試測量探頭的巔峰技術(shù)。 OIP系列光隔離探頭將全面替代所有高、低壓差分探頭、甚至部分無源探頭和高頻有源探頭,給測試測量領(lǐng)域帶來質(zhì)的跨越。
在測試測量領(lǐng)域,測試探頭前端所獲取的信號(hào)一般經(jīng)過線纜傳輸至后端的測試設(shè)備,這種經(jīng)過線纜傳輸方式,存在如下缺點(diǎn):
1 、不絕緣,在高壓場合沒有安全性,多個(gè)測試點(diǎn)不能相互隔離;
2 、線纜存在寄生電容、電感、電阻等特性,帶寬受到限制;
3 、難以同時(shí)滿足高壓、低壓、高帶寬及信號(hào)完整性指標(biāo);
4 、以上三點(diǎn)進(jìn)一步導(dǎo)致探頭的共模抑制比難以提高。
光隔離探頭是將探頭前端的電信號(hào)轉(zhuǎn)換成激光后,經(jīng)過光纖傳輸至后端,在后端再將激光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。這種轉(zhuǎn)換不同于通信領(lǐng)域的寬帶光纖,因?yàn)橥ㄐ蓬I(lǐng)域的光纖傳輸是允許有誤碼發(fā)生的,就算出現(xiàn)誤碼異常,還可以經(jīng)過校驗(yàn)發(fā)現(xiàn),再次重新傳輸。測試測量領(lǐng)域中,信號(hào)傳輸有眾多的指標(biāo)約束,例如信號(hào)完整性約束,幅度精度約束,帶寬約束,延遲約束等等,這些約束要求極端苛刻,需要克服很多的技術(shù)障礙。
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